産品技術
Product technology
| 産品技術 | 薄膜沉積
AVP HR PVD System
-高濃度離子輔助的傾角濺射(Directional Sputtering)
-高速率反應濺射,如Al2O3的沉積速率 > 1nm/s
-優異的薄膜厚度均勻性(1σ<1%),裹覆率(Step Coverage ~50%)
-基片背面氦氣冷卻,基片溫度(<50°C)
-高靶材使用率(>80%)
産品參數
AVP Cluster PVD 技術指标
配置最多3個工藝腔體、可以定制配置、腔體、配件等
工藝腔體HR PVD, 附帶遠程離子源
附帶功能基片位置較準
基片尺寸最大到8英寸
基片背冷基片溫度  < 50­°C
晶圓轉動0~30RPM
晶圓台傾斜角度10~80 Degrees
濺射電源脈沖直流(PDC)+射頻(RF)
遠程離子源最大功率2 kW RF
濺射最大功率5 kW for PDC; 10kW for RF
工藝氣體Ar, O2, N2 
極限真空<8 x 10-8 Torr
真空泵分子泵 + CTI 水泵 + 幹泵
自動控制DeviceNet/PLC
軟件基于最新windows的控制軟件,可遠程調控
薄膜均勻性 (1σ)< 1.0% ,49Pts/5mmEE